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高精度光电三维倾角测量方法及其测量仪专利

时间:2026-05-31    作者:admin 点击: ( 0 ) 次

【摘要】 本发明公开了一种高精度光电三维倾角测量方法及其测量仪,该测量仪采用CCD组件、两个反光镜、准直物镜、放大物镜、激光器组和航空插座等构成;该装置利用倒(正)垂垂线垂直指向地心方向的原理,利用空间结构放大或光学放大位移,从而实现了倾角和倾角变化的高精度测量。测量精度还可以通过光学系统的放大系数做调整、结构简单、紧凑、稳定可靠、成本低。并且还可以采用无线专用设备、无线公共网、有线专用设备、有线公共网进行远程数据传输和信号通讯。本发明可广泛应用于大坝、桥梁等建筑物的安全监测,还可应用于各种工业生产、军事和检测领域的倾角监测。 【专利类型】发明申请 【申请人】西安华腾光电有限责任公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】710049陕西省西安市咸宁路28号 【申请人地区】中国 【申请人城市】西安市 【申请人区县】碑林区 【申请号】CN200410073456.7 【申请日】2004-12-23 【申请年份】2004 【公开公告号】CN100395520C 【公开公告日】2008-06-18 【公开公告年份】2008 【授权公告号】CN100395520C 【授权公告日】2008-06-18 【授权公告年份】2008.0 【IPC分类号】G01B11/26; G01C9/00 【发明人】乐开端 【主权项内容】1.一种高精度光电三维倾角的测量方法,其特征在于,包括下列步骤: 1)首先设置一光路系统,该光路系统包括两个反光镜,两个反光镜之 间有准直物镜和放大物镜,在光路系统的一端有一激光器,另一端有CCD组 件;光源发射出的光经过第一反光镜反射后,通过准直物镜、放大物镜到第 二反光镜,由第二反光镜反射到CCD组件上; 2)将一倒/正垂线或双金属标指针置于光路系统中并从主光轴上垂直引 出,由于倒/正垂线或双金属标指针会挡住部分光线,在CCD组件上留下一 条暗条纹,当坝体发生变形时,垂线相对于倾角测量仪发生移动,通过所述 的光学系统后反映到CCD组件上就是暗条纹的移动,即可将光源发射出的光 角度转化为条纹的位移变化,利用该暗条纹位移进行三维倾角测量,能够同 时测量与水平面X-Y、与垂直面Z三个方向的三维倾角; 所述倾角测量仪用于测量实现沿X、Y轴方向的倾角βx·βy测量,其中βx 是通过测量出倒/正垂垂线高度差为L两点的位移差Δy,通过下式βx=Δ y/L计算得到;βy是通过测量出倒/正垂垂线高度差为L两点的位移差Δx, 通过下式βy=Δx/L计算得到; 所述双金属标仪和绕角测量仪用于绕垂直方向Z的绕角βZ测量,βZ是 通过测量出距双金属标管管轴为R处的相对位移Δr,βZ=Δr/R计算得到。。 (,) 【当前权利人】西安华腾光电有限责任公司 【当前专利权人地址】陕西省西安市咸宁路28号 【专利权人类型】有限责任公司(自然人投资或控股) 【统一社会信用代码】91610139710193820L 【引证次数】3.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】14.0

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