【摘要】 本发明公开了一种X、Y、Z轴相对判读检测方 法及其装置, 其主要是藉由两如不倒翁之上轻下重的内球框(4) 与中球框(3)以定位轴承(45)、(36)依不同轴向将其定位于一圆 环框(2)内, 而使该内球框(4)与中球框(3)可分别呈X轴及Y轴摆 动, 而于静止时, 提供X轴及Y轴两者之XO°+YO°的基准平 面, Z轴根据平面基准, 而可相对判读各角度的平面数据, 可检测 出一平面或垂直或倾斜的数据, 同时藉由设于内球框的指南针 (445)可得知一倾斜角的方位。 【专利类型】发明申请 【申请人】李秋山 【申请人类型】个人 【申请人地址】台湾省台北县新店市长春路19巷23号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN98100846.1 【申请日】1998-02-24 【申请年份】1998 【公开公告号】CN1210254A 【公开公告日】1999-03-10 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN1074534C 【授权公告日】2001-11-07 【授权公告年份】2001.0 【IPC分类号】G01B21/00; G01C15/00; G01C9/00; G01C9/14 【发明人】李秋山 【主权项内容】1、一种X、Y、Z轴相对判读检测方法及其装置，其特征在于： 其判读检测方法是藉由两如不倒翁之上轻下重的内球框与中球框，以 定位轴承依不同轴向将其定位于一圆环框内，而使该内球框与中球框 可分别呈X轴及Y轴摆动，且该圆环框是以定位轴承且与中球框定位 轴承呈垂直交叉的方向枢设于一设于基座上的外球壳内，藉由内球框 与中球框分别呈X轴向、Y轴向的同步摆动，并同时与代表Z轴的外 球壳同产生相对转动之位移关系，而可由内球框、中球框及外球壳顶 端所设的零度基准刻度、零度基准圆孔及零度基准刻度，再配合内球 框、中球框及外球壳的周缘所设的各刻度而得到一动态之基准数据， 而可检测出一平面或垂直或倾斜的数据，使外球壳(Z轴)可依循内球 框(X轴)及中球框(Y轴)的摆动轨道测出平面或角度，并藉由设于内球 框的指南针及基座顶面周缘的方位刻度，而可同时检测出一倾斜角的 方向，更藉由上述结构促成内球框与中球框两者的X轴、Y轴可在X 轴向轨道上或Y轴向轨道上，在常态下提供两者共持的二维平面基因， 则使外球壳(Z轴)的零度基准可依循X、Y轴向轨道上核对XY二维 平面基因而相对判读等Z角度，均可在等Z角度修正一平面，又藉指 南针可得方向角度。 【当前权利人】李秋山; 沈素珍 【被引证次数】20.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】18.0 【家族被引证次数】20.0

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