【摘要】 结构水平位移观测装置, 包括一个可以安装在相 对固定点的托盘4, 托盘4有一个通过张线1的缺口和一个作为 测量基准的三棱锥体5。显微镜6和测微器7相互垂直安装在 托盘上, 其定位点是显微镜6能清楚瞄准张线时的调焦范围的 中点, 并在x方向和y方向均可定位。该装置可用于测量核电站 安全壳及其它高耸大跨度结构的水平位移, 分辨率为0.01mm, 最大绝对误差0.15mm, 优于美国相关标准, 测读方便, 长期稳定 性好。 【专利类型】实用新型 【申请人】冶金工业部建筑研究总院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100088北京市海淀区西土城路33号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN98208335.1 【申请日】1998-09-10 【申请年份】1998 【公开公告号】CN2335122Y 【公开公告日】1999-08-25 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN2335122Y 【授权公告日】1999-08-25 【授权公告年份】1999.0 【IPC分类号】G01B11/02; G01B9/04 【发明人】赵树明; 林松涛; 谢永金 【主权项内容】1．结构水平位移观测装置，包括一个可以安装在对被测结构来说是相对固 定点的托盘(4)，它有一个通过测点张线(1)的缺口，缺口附近的托盘上有测量基 准物，其特征是： a．所说托盘上的基准物有一个，它是一个至少有一条直线段垂直于托盘(4) 的物体； b．还有光路上有十字丝的显微镜(6)和螺旋测微器(7)，它们在托盘(4)上相 互垂直安装，前者在上，后者在下，用螺丝把显微镜(6)固定在螺旋测微器(7)的 滑块上； c．以所说显微镜能清楚瞄准张线(1)时，其调焦范围的中点作为它们在托盘 (4)上的安装定位点，这样的定位点在x方向和y方向各取1个； d．所说基准物的直线段至缺口中心的距离在x方向和y方向相等，且大于张 线(1)的预期最大位移而小于螺旋测微器(7)的量程。 【当前权利人】冶金工业部建筑研究总院 【当前专利权人地址】北京市海淀区西土城路33号 【被引证次数】3.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】1.0 【家族被引证次数】3.0

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