【摘要】已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单 只探测器, 只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微 区进行高密度的数据扫描测量, 则测量的效率较低, 不易实用。 本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器, 通过旋转 检偏器,
【摘要】 请求保护色彩。 【专利类型】外观设计 【申请人】四川长虹电子集团公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】621000四川省绵阳市跃进路4号 【申请人地区】中国 【申请人城市】绵阳市 【申请人区县】涪城区 【申请号】CN98305979.9 【申请日】1998-12-12 【申请年份】1998 【公开公告号】CN3120562D 【公开公告日】1999-09-08 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN3120562D 【授权公告日】1999-09-08 【授权公告年份】1999.0 【发明人】李宪忠 【主权项内容】无 【当前权利人】四川长虹电子集团公司 【当前专利权人地址】四川省绵阳市跃进路4号
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