【摘要】 一种轴径测量仪, 适用于大轴径高精度测量。在一 半圆形机体上, 设置一上定位轴、一侧定位轴、一动平衡机构、 一测量机构、静平衡凹槽和一手把。采用径向同截面无间隙三 点测量法、侧母线三点定位法和上母线两点定位法进行测量, 是一种比较
【专利类型】外观设计 【申请人】冯__立 【申请人类型】个人 【申请人地址】610041四川省成都市高新区石羊场丰收村七组 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】武侯区 【申请号】CN98314840.6 【申请日】1998-09-09 【申请年份】1998 【公开公告号】CN3111817D 【公开公告日】1999-06-02 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN3111817D 【授权公告日】1999-06-02 【授权公告年份】1999.0 【发明人】冯立 【主权项内容】无 【当前权利人】冯__立 【当前专利权人地址】四川省成都市高新区石羊场丰收村七组
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