【摘要】 动态光电自准直仪是对测量角位移的自准直仪 的改进。其特征是光源照亮矩形孔的光线经分光棱镜和准直物 镜投射到被测反射镜上, 反射回来的光线再经过准直物镜和分 光棱镜, 在四象限光电探测器上聚焦得到矩形孔的象斑。被测反 射镜的二维角位移造成矩形孔象斑的二维线性位移, 通过计算 四个象限的输出可得到被测反射镜的二维角位移量。本实用新 型的结构简单, 能进行二维角位移的动态测量, 且测量范围大、 速度快、精度高。 【专利类型】实用新型 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209四川省成都市双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN98229708.4 【申请日】1998-10-20 【申请年份】1998 【公开公告号】CN2351743Y 【公开公告日】1999-12-01 【公开公告年份】1999 【授权公告号】CN2351743Y 【授权公告日】1999-12-01 【授权公告年份】1999.0 【IPC分类号】G01B11/27 【发明人】沈忙作 【主权项内容】1．动态光电自准直仪中，光源(1)发出的光照亮位于准直物镜( 4)焦面上的光阑(2)，通过光栏的光线经过分光棱镜(3)由准 直物镜(4)变成平行光，投射到被测对象反射镜(5)上，由此 反射镜反射回来的光线通过准直物镜(4)，被分光棱镜(3)转 折90°，在光电探测器(6)的探测面(8)上聚焦，形成光阑的像 ，光电探测器输出的光电流，经电流/电压变换，送到数据处理， 从而计算出反射镜角度的位移量，动态光电自准直仪的特征在于 ：光源(1)照亮矩形孔(2)的光线经过分光棱镜(3)准直物镜 (4)投射到反射镜(5)上，光线从此反射镜反射回来，再经准 直物镜(4)，分光棱镜(3)，在四象限光电探测器(6)的探测 面(8)上聚焦，得到矩形孔(2)的象斑(7)，通过计算探测器 四象限的输出，即可得到被测对象反射镜(5)的二维角位移量。 -官网 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省成都市双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【被引证次数】3.0 【被他引次数】3.0 【家族被引证次数】3.0

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